DERA NVMe SSD评测

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近期SSDFans对DERA的企业级NVMe SSD进行了评测,该款产品为AIC形态,采用了半高半长的PCIE插卡尺寸,支持PCIe X4或者X8接口。产品介绍如下:

DERA NVMe控制器

DERA NVMe控制器是DERA NVMe SSD产品的核心部件,TAI是第一代的DERA NVMe控制器。DERA TAI前端支持PCIe Gen3 x8或x4接口,内建高效率DMA数据传输引擎,后端集成多个NAND接口通道和高强度ECC硬件编解码单元。闪存转换层(FTL)算法与控制器紧密协同设计,综合运用多种技术实现企业级的数据存储可靠性,并充分发挥NAND闪存的高速存取特点,为应用系统提供高可靠、低延时、高吞吐量的标准块存储服务。

DERA TAI控制器结构框图

DERA NVMe SSD产品

DERA TAI控制器为每个NAND通道都内建了独立的HSHP ECC编解码硬件单元,保证ECC编解码能以很短的附加延迟完成。可将NAND接口层面的UBER(不可纠正误码率)控制在1扇区/1E17bit的水平之下。DERA TAI控制器还实现了完整的数据通道ECC及CRC保护机制。

在此基础上,DERA采用与TAI控制器协同设计的管理固件,综合实现了数据端到端保护、自适应冗余组(Adaptive Redundant Group)数据保护、NAND全生命周期管理、意外掉电保护等先进的数据完整性保护策略,形成了高可靠、高性能的D5000 NVMe SSD产品系列。

DERA TAI控制器提供原生支持PCIe Gen3 x8。在主机通道资源充足的情况下,能够更充分利用通道带宽资源,提供比x4更好的性能。

产品的实物图片如下:

测试项目包括:

1.性能测试 (工具FIO)

2.随机写性能曲线

  • 测试方法:先对全盘进行一次顺序写覆盖,然后进行2小时的随机写并实时记录IOPS
  • 总体而言,抖动控制的不错,测试的时间还是不够长,以后有机会再测久一些

3.高温读写压力测试

测试方法:

  • 在环境温度50°下跑读写混合测试
  • Job1:RW=write, BS=128K,IOQ=128, Verify enable
  • Job2: RW=Randw,BS=4K,IOQ=128, Verify enable

测试结果:通过48小时

4.Data Retention 测试

  • 测试方法:复制全盘数据,在spec规定最低温度下静止24小时后比较数据
  • 测试结果:通过

5.JEDEC Enterprise Workload测试

  • 测试方法:使用ULink DriveMaster的脚本进行测试
  • 测试结果:通过 (读取239GB,写入239GB,每GB功耗 334J)

注:由于DERA的盘容量比较大,在使用DriveMaster进行测试时,需要配置Ulink的转接卡的部分Jumper,使其采用外部供电模式,否则无法顺利测试。(感谢DERA和Ulink双方工程师的支持)

6.掉电测试

  • 测试方法:使用ULink DriveMaster的脚本进行测试
  • 测试结果:300 cycle的测试 通过(Queue command 和 Non-Queue Command各 150 次)

总结:

通过以上性能测试、高温测试、可靠性测试这样三个维度的实测可以得到以下2个结论。

1. 此款SSD产品各项指标均达到行业内顶尖水准。

2.DERA自研固件配合自研控制器芯片使得该NVME SSD性能高效、各项指标平稳,设计非常体现功力。

希望国内能出现更多像DERA这样拿出好产品的公司,参与到国际水准的竞争中去。

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