公司 产品名称 MD5 NVM_RW_DATACMP_Q JEDECWL_CLIENT JEDECWL_ENT PWCYCLE_RDMCMDS PWCYCLE_DATACMP PWCYCLE_FULLDISKSCAN
Adata SX8000 Pass Pass Fail Fail Pass Pass Fail
WD Black Pass Pass Pass Pass Pass Pass Pass
Samsung 960EVO Pass Pass Pass Pass Pass Pass Pass
Kingston KC1000 Pass Pass Pass Pass Pass Pass Pass
DriveMaster NVMe Regression测试,其测试项目包括:
  • MD5
    • 将SSD划分为N个区域(Band);
    • 向Band 1写入预设的数据,并将数据copy到其他Band;
    • 计算并保存Band 1内数据的MD5校验值;
    • 重复以下步骤
      • 随机将某个Band内随机长度的数据逐一copy到其他Band;
      • 随机从某Band读取随机长度的数据,并写回原位置;
      • 重新上电
    • 重新计算每个Band的MD5校验值,并与之前保存的MD5值比较
  • NVM_RW_DATACMP_Q
    • 包括顺序/随机读写比较测试 (NCQ mode)
    • 使用的Pattern包括 (Random,Incremental, Decremental,0xAAAA,0x5555, 0xFFFF, Walking One和Walk Zero)
  • JEDECWL_CLIENT — 请参考JEDEC 218/219
  • JEDECWL_ENT — 请参考JEDEC 218/219
  • PWCycle_RDMCMDs
    • 对SSD进行掉电,在掉电过程中随机对SSD发送命令;
    • 上电SSD并确认SSD是否可以正常访问,并检查SSD的Ready Time;
  • PWCYCLE_DATACMP
    • 向SSD写入随机数据(Good Data);
    • 下发Flush Command 确保数据写入Flash(可选);
    • 对SSD进行掉电,在掉电过程中对SSD写入数据(PowerOff Data);
    • 上电SSD并确认SSD是否可以正常访问,并检查SSD的Ready Time;
    • 比较Good Data (不应该出现mis compare)和PowerOff Data(允许出现mis compare);
  • PWCYCLE_FULLDISKSCAN
    • 向SSD全盘写入预设的数据Pattern;
    • 向SSD写入随机数据(Good Data);
    • 下发Flush Command 确保数据写入Flash(可选);
    • 对SSD进行掉电,在掉电过程中对SSD写入数据(PowerOff Data);
    • 上电SSD并确认SSD是否可以正常访问,并检查SSD的Ready Time;
    • 比较Good Data (不应该出现mis compare)和PowerOff Data(允许出现mis compare);
    • 检查SSD其余部分的预设Pattern没有变化;