DriveMaster NVMe Regression测试，其测试项目包括：
- PWCycle_RDMCMDs
- 对SSD进行掉电，在掉电过程中随机对SSD发送命令；
- 上电SSD并确认SSD是否可以正常访问，并检查SSD的Ready Time；
- PWCYCLE_DATACMP
- 向SSD写入随机数据（Good Data）；
- 下发Flush Command 确保数据写入Flash（可选）；
- 对SSD进行掉电，在掉电过程中对SSD写入数据（PowerOff Data）；
- 上电SSD并确认SSD是否可以正常访问，并检查SSD的Ready Time；
- 比较Good Data (不应该出现mis compare)和PowerOff Data（允许出现mis compare）；
- PWCYCLE_FULLDISKSCAN
- 向SSD全盘写入预设的数据Pattern；
- 向SSD写入随机数据（Good Data）；
- 下发Flush Command 确保数据写入Flash（可选）；
- 对SSD进行掉电，在掉电过程中对SSD写入数据（PowerOff Data）；
- 上电SSD并确认SSD是否可以正常访问，并检查SSD的Ready Time；
- 比较Good Data (不应该出现mis compare)和PowerOff Data（允许出现mis compare）；
- 检查SSD其余部分的预设Pattern没有变化；
- MD5
- 将SSD划分为N个区域（Band）；
- 向Band 1写入预设的数据，并将数据copy到其他Band；
- 计算并保存Band 1内数据的MD5校验值；
- 重复以下步骤
- 随机将某个Band内随机长度的数据逐一copy到其他Band；
- 随机从某Band读取随机长度的数据，并写回原位置；
- 重新上电
- 重新计算每个Band的MD5校验值，并与之前保存的MD5值比较
- JEDECWL_CLIENT — 请参考JEDEC 218/219
- JEDECWL_ENT — 请参考JEDEC 218/219
- NVM_RW_DATACMP_Q
- 包括顺序/随机读写比较测试 （NCQ mode）
- 使用的Pattern包括 （Random，Incremental, Decremental，0xAAAA，0x5555, 0xFFFF, Walking One和Walk Zero）
近期SSDFans选取了几款NVMe M.2 SSD进行了测试，分别是：
- Kingston KC1000: 控制器: Phison PS5007-E7 NAND: MLC
- Samsung 960EVO: 控制器：Samsung Polaris， NAND： Samsung 48 Layer 3D TLC
- Adata (威刚) XPG SX8000: 控制器：SMI 2260，NAND：美光3D MLC
- WD Black: 控制器：Marvell88SS1093，SanDisk 15nm TLC
测试结果如下：
后续我们将对更多的SSD进行测试，也欢迎厂商提供样品给我们。
