近期SSDFans对DERA的企业级NVMe SSD进行了评测，该款产品为AIC形态，采用了半高半长的PCIE插卡尺寸，支持PCIe X4或者X8接口。产品介绍如下：
DERA NVMe控制器
DERA NVMe控制器是DERA NVMe SSD产品的核心部件，TAI是第一代的DERA NVMe控制器。DERA TAI前端支持PCIe Gen3 x8或x4接口，内建高效率DMA数据传输引擎，后端集成多个NAND接口通道和高强度ECC硬件编解码单元。闪存转换层（FTL）算法与控制器紧密协同设计，综合运用多种技术实现企业级的数据存储可靠性，并充分发挥NAND闪存的高速存取特点，为应用系统提供高可靠、低延时、高吞吐量的标准块存储服务。
DERA TAI控制器结构框图
DERA NVMe SSD产品
DERA TAI控制器为每个NAND通道都内建了独立的HSHP ECC编解码硬件单元，保证ECC编解码能以很短的附加延迟完成。可将NAND接口层面的UBER（不可纠正误码率）控制在1扇区/1E17bit的水平之下。DERA TAI控制器还实现了完整的数据通道ECC及CRC保护机制。
在此基础上，DERA采用与TAI控制器协同设计的管理固件，综合实现了数据端到端保护、自适应冗余组（Adaptive Redundant Group）数据保护、NAND全生命周期管理、意外掉电保护等先进的数据完整性保护策略，形成了高可靠、高性能的D5000 NVMe SSD产品系列。
DERA TAI控制器提供原生支持PCIe Gen3 x8。在主机通道资源充足的情况下，能够更充分利用通道带宽资源，提供比x4更好的性能。
产品的实物图片如下：
测试项目包括：
1.性能测试 （工具FIO）
2.随机写性能曲线
- 测试方法：先对全盘进行一次顺序写覆盖，然后进行2小时的随机写并实时记录IOPS
- 总体而言，抖动控制的不错，测试的时间还是不够长，以后有机会再测久一些
3.高温读写压力测试
测试方法：
- 在环境温度50°下跑读写混合测试
- Job1：RW=write, BS=128K，IOQ=128, Verify enable
- Job2: RW=Randw，BS=4K，IOQ=128, Verify enable
测试结果：通过48小时
4.Data Retention 测试
- 测试方法：复制全盘数据，在spec规定最低温度下静止24小时后比较数据
- 测试结果：通过
5.JEDEC Enterprise Workload测试
- 测试方法：使用ULink DriveMaster的脚本进行测试
- 测试结果：通过 （读取239GB，写入239GB，每GB功耗 334J）
注：由于DERA的盘容量比较大，在使用DriveMaster进行测试时，需要配置Ulink的转接卡的部分Jumper，使其采用外部供电模式，否则无法顺利测试。（感谢DERA和Ulink双方工程师的支持）
6.掉电测试
- 测试方法：使用ULink DriveMaster的脚本进行测试
- 测试结果：300 cycle的测试 通过（Queue command 和 Non-Queue Command各 150 次）
总结：
通过以上性能测试、高温测试、可靠性测试这样三个维度的实测可以得到以下2个结论。
1. 此款SSD产品各项指标均达到行业内顶尖水准。
2.DERA自研固件配合自研控制器芯片使得该NVME SSD性能高效、各项指标平稳，设计非常体现功力。
希望国内能出现更多像DERA这样拿出好产品的公司，参与到国际水准的竞争中去。
