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2012年UCSD的NVM实验室和微软Mountain View研究院发表了一篇Paper,通过对6家Flash厂商的45种Flash芯片进行性能测试,对NAND Flash在未来的技术演进进行了分析。这些芯片工艺从72nm到25nm。
主要发现随着NAND制造工艺更微小,从20多nm,到10几nm,最后可能到6.5nm的预测最小尺寸,读写延迟不断增大,同样通道数的时候,性能会下降。同时寿命和错误率也会增加。当然,容量会不断增大。
每个cell里面每增加一个bit存储,写延迟增加4倍,擦写寿命减少10到20倍,容量上的回报有限:分别是2倍、1.5倍、1.3倍,如果2bit、3bit、4bit一个cell。
平台
微软使用了一款可以直接读写NAND Flash的SSD,如下图,对各种Flash进行测试。
NAND Flash工艺简介
上图显示,NAND Flash的成本每年下降40-50%。但是从2011年开始变化趋缓。
最早一个cell,就是一个MOS晶体管,存储一个bit,后来Samsung先宣布MLC,一个cell保存两个bit,后来Toshiba把两个bit分拆到两个page去,这样program速度更快,因为每次只需要变动电压的一半。接着Samsung进行了改进,用粗糙的脉冲对Lower bit进行快速program,精细的脉冲对Upper bit进行慢速program。FushionIO就使用了MLC的lower bit作为SMLC SSD,速度可以堪比SLC,但是更便宜。
现在Samsung又推出了TLC的SSD,一个cell有3个bit。
测试结果
容量
读写延迟
上图显示工艺演进,读写延迟增大。MLC-1指lower page,-2就是upper page,TLC-3就是TLC的最高一级page。
带宽和IOPS
测试SSD的通道是固定个数,使用的NAND Flash工艺越新,容量就越大,所以横轴改用容量表示工艺的演进。
下图显示,工艺越往后,带宽越低。所以需要增加数据通道数量来提升带宽,这样就会增加成本,以后容量越大的性能越好,容量小的SSD性能会越差,因为通道数无法增加,同样容量的情况下,通道数会减少。
如下图512Byte读写性能下降很快,因为page越来越大,浪费的带宽变多。4KB就好很多。
归一化结果
结论
我的结论是随着工艺演进,每个flash芯片容量越来越大,如果SSD容量不变,那么性能肯定下降,因为使用的芯片个数变少了,数据通道变少了。同时读写延迟下降了,寿命变短了,出错概率变高了。优点是价格更便宜了。
即使性能下降,SSD速度依然比传统机械硬盘快很多倍。某款HDD性能如下,只有128KB的顺序读写能和小容量SSD作比较。而随机读写和IOPS差了几个数量级。