补充一些其他零碎的知识点。

1. RBER随着PE Cycle增加而增加的曲线非常平滑，即使这块盘的PE Cycle到了寿命要求的值以后仍然如此， 在PE cycle到了寿命的三倍时，RBER才会有一个陡峭的上升（厂商给自己留了足够大的buffer） — 兵哥之前的non-balance wear leveling 算法，也是把Flash的寿命提高3倍，兵哥的水平跟加拿大教授一样高！
2. 通常的加速算法并不能有效的推演出实际使用情况下UECC随着PE cycle增加的趋势，其错误率比真实情况低了一个数量级；以盘MLC-B为例， 60%的盘出现了Uncorrelated Error，80%的出[……]

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首先更正一下，上次有个地方说的不对。

之前说的是相同的型号，不同的批次，这是我望文生义了，实际上人家的意思是部署到不同的地方。

之前提到过，这是多伦多大学和谷歌合作出的一份资料：在FMS上一份20几页的PPT，其实人家做了大量的数据收集和分析，专门发了一篇论文。

一开篇人家就说了，以前大量的论文和研究，都是在实验室里，用少量的盘，采用模拟的方法进行的，而他们的结果是基于对谷歌数据中心共6年的，数百万盘天的数据分析的结果。

PS: [盘.天]就是指一块盘用一天。

一句话，我们不是针对谁，在座的各位都是垃圾。

他们使用盘的整体情况，文章里提到谷歌使用的是定制的SSD。

教授对错误进行了[……]

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作者 Hunger就是杭哥

在正文之前：

这里隔空帮另一篇ssdfans的推文做一个小小的注释——《JESD218A之SSD耐用性测试规范解读》原文第12段中：

上面这段话中的表达可能会让部分读者误解为：86℃是指环境温度。其实不然，准确来讲86℃代表的是SSD自身的实际温度。我们知道，SSD在工作时，本身的温度一般都会比环境温度高几℃到十几℃不等（视工作强度和产品散热情况而定）。可别小看这几℃的误差，选错了一点点的测试温度，对测试时间的影响都是非常巨大的！

在这里可以分享一个不是很精确但是比较简单的记法：在JESD218规范中，测试温度每升高或降低约6~7℃，测试时间就要相应[……]

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Samsung在FMS 16上放出了一组NVMe Over Fabric的性能测试结果，其配置如下：

24块Samsung NVMe Datacenter SSD做Target

2个100G的交换机

4台主机做Host，每台Host配2个25G的网口

OS：14.04.4 LTS Linux 4.7.0-rc2 kernel

Open Source NVMe-oF™ kernel drivers

Latency 方面

Random IO (QD=1, Job=1)

与本地相比，读大约差17us，写大概差9us

Random IO (QD=16, Job=2)

与本地相[……]

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前面有篇文章介绍过Seagate的LDPC，其中提到了动态ECC的部分，说的是在SSD不同的生命阶段，采用不同的ECC长度。

这两天看到了一份MicroSemi的资料，也提到了动态ECC的部分，可以分享一下。

首先，MicroSemi给出一张图说明自己的观点：

1. 相同的PE Cycle，不同的Page之间，RBER最多可能相差20倍
2. 不同的Page，在整个生命周期内，RBER最多可能相差2000倍

这样会带来一个问题：

• 如果Parity Data占用比较多bit，User Data可用空间就小，WA就大
• 如果Parity Data占用比较少bit，有些page就会出现Uncorrecta[……]

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